二手9成新SFT9500日本精工X射线荧光无损电镀层膜厚测量测厚仪精工膜厚仪
转让一台日本日立X射线荧光镀层厚度测量SFT9500 可测量元素 原子序数13(Al)～83(Bi) X射线聚光 聚光方式 X射线源 管电压 50kV 管电流 1mA 检测器 Vortex 检测器(无需液氮) 分析范围 Φ0.1mm、Φ5mm 样品观察 彩色CCD摄像头（附变焦功能） 滤波器 3种模式自动切换 样品平台 240(W)×330(D)mm 移动量 X：220mm Y：150mm Z：150mm 载重量 10kg 重量 123kg 膜厚测量软件 薄膜FP法（*多五层，各层十种元素） 检量线法（单层、双层、合金膜厚成分） 定量分析功能 块体FP法 统计处理功能 Microsoft-EXCEL 报告制作 Microsoft-WORD 安装环境 温度：10℃～35℃(±)5℃ 湿度：35%～80% 使用 接地三头插座 AC100、15A 测量金属膜厚如Au/Ag/Ni/Sn/Zn/Cr等等镀层单层/双层/多层。可测量电镀、蒸镀、离子镀等各种金属镀层的厚度。 设备所在地址：东莞市山镇增埗村麒麟城工业区新益大厦宏诚光学
采用X射线聚光系统，适用于微小样品的镀层厚度测量及RoHS分析
【详细说明】
SFT9500 高性能X射线荧光镀层厚度测量仪
产品副名称：采用X射线聚光系统，适用于微小样品的镀层厚度测量及RoHS分析
产品型号：SFT9500
产品特点：
★ X射线发生系统采用了聚光导管
由于采用了X射线聚光导管方式，可得到以往十倍以上的X射线强度，从而可以提高微小样品的膜厚测
量及有害物质测量的精度。
★ 无需液氮的半导体检测器
在进行薄膜测量与有害物质的浓度测量时，高分辨率的检测器是必不可少的。SFT9500的检测器不但
可以达到高分辨率，而且可以实现高计数率。同时，由于使用了电子冷却方式，所以无需液氮。
★ 能谱匹配软件（选配件）
可瞬间识别未知样品与事先存档的X射线能谱库中哪一个样品较为接近的软件。对识别材料十分有效
。
★ 块体检量线软件（适用于电镀液分析） （选配件）
可简单地测量出电镀液中主要金属的浓度。
★ 绘图软件（选配件）
将元素面分析的结果进行等高线和色彩使用等视觉处理的软件。
★ 电镀液容器（选配件）
★ 各种标准物质（选配件）
产品介绍：
SFT9500的X射线发生系统是X射线聚光系统（聚光导管）与X射线源相结合，产生束斑直径为Φ0.1mm以
下高强度的X射线束。
所以SFT9500可以对以往由于X射线照射强度不足而导致无法得到理想精度的导线架、接插头、柔性线路板
等微小零件及薄膜进行测量。
同时，SFT9500采用了高计数率、高分辨率的半导体检测器（无需液氮），在测量镀膜厚度的同时，对于
欧盟的RoHS&ELV法规所限制的有害元素的分析测量也十分有效。
SFT9500产品规格
可测量元素
原子序数13（Al）～83（Bi）
X射线聚光
聚光方式
X射线源
管电压：50kV
管电流：1mA
检测器
Vortex?检测器（无需液氮）
分析范围
Φ0.1mm、Φ5mm
样品观察
彩色CCD摄像头（附变焦功能）